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三豐表面粗糙度輪廓測量儀SV-C3200S4的表面粗糙度/ 輪廓測量儀FORMTRACER/SV-C3200S4，貨號525-481DC-1，X1 軸測量范圍100 mm，花崗巖基座尺寸600×450 mm，垂直移動300 mm。
更新時間：2018-03-02
三豐表面粗糙度輪廓測量儀SV-C3200S4
三豐表面粗糙度輪廓測量儀SV-C3200S4的表面粗糙度/ 輪廓測量儀FORMTRACER/SV-C3200S4，貨號525-481DC-1，X1 軸測量范圍100 mm，花崗巖基座尺寸600×450 mm，垂直移動300 mm。
檢出器測力：0.75 mN
貨號 | 型號 | 主機規(guī)格 | ||
X1 軸測量范圍 | 垂直移動 | 花崗巖基座尺寸 | ||
525-481DC-1 | SV-C3200S4 | 100 mm | 300 mm | 600×450 mm |
分析軟件 |
| FORMTRACEPAK V5.4/E SVC/CS |
2. 主機規(guī)格
2-1. 測量表面粗糙度時
測量范圍 | X1 軸 |
| 100 mm |
| 檢出器 | 800 μm、80 μm、8 μm | |
類型 | X1 軸 |
| 反射型線性編碼器 |
| 檢出器 |
| 差動電感式 |
分辨力 | X1 軸 |
| 0.05 μm |
| 檢出器 |
| 0.01μm（800 μm） 0.001 μm（80 μm） 0.0001 μm（8 μm） |
直線度
|
| （0.05＋L/1000）μm L為驅(qū)動長度（mm） （以X1軸為水平方向上） | |
測針上／下運作 |
| 弧形移動 | |
測針方向 |
|
| 向下 |
測力 |
|
| 0.75 mN |
測針針尖形狀 |
| 60°、R2 μm | |
2-2. 測量輪廓形狀時
測量范圍 | X1 軸 |
| 100 mm |
| Z1軸（檢出器） | 60 mm | |
類型 | X1 軸 |
| 反射型線性編碼器 |
| Z1軸 |
| 圓弧光柵尺 |
分辨力 | X1 軸 |
| 0.05 μm |
| Z1軸 |
| 0.04 μm |
直線度 |
| 0.8μm/100 mm （以X1軸為水平方向上） | |
指示精度 | X1 軸 |
| ±（0.8＋0.01L）μm L為驅(qū)動長度（mm） |
（20℃） | Z1軸 |
| ±（1.6＋｜2H｜/100）μm H：基于水平位置的測量高度（mm） |
測針上／下運作 | 弧形移動 | ||
測量方向 |
|
| 向前/向后 |
測針方向 |
|
| 向上/ 向下 |
測力 |
|
| 30 mN |
跟蹤角度 | 向上 |
| 77°（依表面粗糙度而定） |
| 向下 |
| 83°（依表面粗糙度而定） *使用配置的標(biāo)準(zhǔn)測頭 |
測針針尖 | *半徑 |
| 25 μm |
| 材料 |
| 硬質(zhì)合金 |
2-3. 主機規(guī)格
垂直移動 | Z2 軸(立柱) | 300 mm | |
長度基準(zhǔn) | Z2 軸 |
| ABSOLUTE 線性編碼器 |
分辨力 | Z2 軸 |
| 1 μm |
X1 軸傾角范圍 |
| ±45° | |
驅(qū)動速度 | X1 軸 |
| 0～80 mm/s外加手動 |
| Z2 軸 |
| 0～30 mm/s外加手動 |
測量速度 |
|
| 0.02～5 mm/s |
基座尺寸 | 600×450 mm | ||
基座材料 |
|
| 花崗巖 |
尺寸 | 主機 | 996×575×966 mm | |
| 控制器 | 221×344×490 mm | |
| 遙控箱 | 248×102×62.2 mm | |
重量 | 主機 | 140 kg | |
| 控制器 | 14 kg | |
| 遙控箱 | 0.9 kg | |
使用溫度范圍 |
| 15～25 ℃ | |
使用濕度范圍 |
| 20～80 %RT 但是不能結(jié)露 | |
保存溫度范圍 |
| -10～50 ℃ | |
保存濕度范圍 |
| 5～90 %RT 但是不能結(jié)露 | |
電源 |
|
| 100～120V、200～240 V±10%、AC50/60 Hz |
消耗功率 |
|
| 400W |
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